出展対象製品

  • 外観検査装置

    • 実装基板外観検査装置
    • 赤外線検査装置
    • ボール外観検査装置
    • バンプ外観検査装置
    • 半導体チップ外観検査装置
    • 電子部品外観検査装置  など
    • はんだ外観検査装置
    • X線検査装置
    • TAB外観検査装置
    • リードフレーム外観検査装置

    リワーク/リペア装置

    • BGA/CSPリワークシステム
    • リワーク用各種治具、ツール  など
    • BGA/CSPリワーク装置

    テスタ

    • インサーキットテスタ
    • バウンダリスキャンテスタ
    • IC/LSIテスタ
    • ファンクションテスタ
    • ICテストソケット
    • ベアボードテスタ  など

    検査関連部品

    • 治具、プローブ、ステージ  など

    測定・試験・分析機器

    • 2・3次元測定機器
    • 恒温・恒湿試験装置
    • 各種環境試験装置
    • 耐久試験装置/振動計
    • 材料分析装置
    • 各種測定・試験・分析機器
    • 膜厚測定機器
    • バーンイン試験装置
    • 材料試験装置
    • 信頼性/評価試験装置
    • 各種分析ソフト
    • センサ・計測関連部品  など

    分析受託サービス

    • 分析受託・サービス  など

    その他 各種検査・試験・測定装置・部品


    特設非破壊検査ゾーン

    • X線検査装置
    • 超音波検査装置
    • 磁気検査装置
    • 渦流検査装置
    • 画像処理システム
    • ガンマ線検査装置
    • 放射線検査装置
    • 磁粉検査装置
    • 浸透検査装置
    • カメラ・スコープ など


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    その他ご質問などありましたら事務局までお問合せください

ネプコン ジャパン2018
-下記7展で構成-
同時開催展