＜外観検査装置＞

• 実装基板外観検査装置
• 赤外線検査装置
• ボール外観検査装置
• バンプ外観検査装置
• 半導体チップ外観検査装置
• 電子部品外観検査装置　　など

• はんだ外観検査装置
• X線検査装置
• TAB外観検査装置
• リードフレーム外観検査装置
• 基板外観検査装置

＜リワーク／リペア装置＞

• BGA／CSPリワークシステム
• リワーク用各種治具、ツール　　など

• BGA／CSPリワーク装置

＜テスタ＞

• インサーキットテスタ
• バウンダリスキャンテスタ
• IC／LSIテスタ

• ファンクションテスタ
• ICテストソケット
• ベアボードテスタ　　など

＜検査関連部品＞

• 治具、プローブ、ステージ　　など

＜測定・試験・分析機器＞

• 2・3次元測定機器
• 恒温・恒湿試験装置
• 各種環境試験装置
• 耐久試験装置／振動計
• 材料分析装置
• 各種測定・試験・分析機器

• 膜厚測定機器
• バーンイン試験装置
• 材料試験装置
• 信頼性／評価試験装置
• 各種分析ソフト
• センサ・計測関連部品　　など

＜分析受託サービス＞

• 分析受託・サービス　　など

＜その他各種検査・試験・測定装置・部品＞