|
|
出展料金に含まれる
主なサービス |
- 出展スペースの提供（但し、柱、壁、カーペット、看板などの装飾料金は一切含まれていません。）
- 展示会招待券の無料提供
- VIP特別招待制度
- 業界関係紙誌など各種媒体へのプレスリリースによる出展情報事前告知
- ホームページへの出展情報掲載
- 来場者に配布する「会場案内図」、「公式ガイド」への貴社名、出展内容掲載
※この他にも、出展効果をあげていただく為の様々なサービスをご用意しております。 |
| 来場対象者 |
本展には、下記エレクトロニクス関連メーカーから、生産技術、製造技術、研究・開発、品質管理・検査、設計、購買、生産管理などの専門家が多数来場します。
- 電気・電子機器メーカー
- 移動体通信機器メーカー
- 半導体アセンブリメーカー
- 光学機器メーカー
- 電子部品・材料メーカー
|
- EMS企業
- コンピュータ（および周辺機器）メーカー
- 自動車・輸送機器メーカー
- 映像機器メーカー
- その他エレクトロニクスメーカー など
|
|
| 出展対象製品 |
外観検査装置 |
- 実装基板外観検査装置
- はんだ外観検査装置
- 赤外線検査装置
- X線検査装置
- ボール外観検査装置
- TAB外観検査装置
|
- バンプ外観検査装置
- リードフレーム外観検査装置
- 半導体チップ外観検査装置
- 基板外観検査装置
- 電子部品外観検査装置 など
|
|
| リワーク／リペア装置 |
- BGA/CSPリワークシステム
- BGA/CSPリワーク装置
|
|
|
| テスタ |
- インサーキットテスタ
- ファンクションテスタ
- ICテストソケットバウンダリスキャンテスタ
|
- ICテストソケット
- IC/LSIテスタ
- ベアボードテスタ など
|
|
| 検査関連部品 |
|
|
| 測定・試験・分析機器 |
- 2・3次元測定機器
- 膜厚測定機器
- 恒温・恒湿試験装置
- バーンイン試験装置
- 各種環境試験装置
- 材料試験装置
|
- 耐久試験装置/振動計
- 信頼性/評価試験装置
- 材料分析装置
- 各種分析ソフト
- 各種測定・試験・分析機器
- センサ・計測関連部品 など
|
|
| 分析受託サービス |
|
|
| その他各種検査・試験・測定装置・部品 |
 |
| 画像処理ゾーン |
産業用カメラ、ソフト、システムなど画像処理に特化した機器・技術が一堂に出展！
|
入力系 |
CCDカメラ |
レンズ |
画像処理用光源 など |
|
処理系 |
画像処理装置 |
画像処理ボード |
画像処理ソフト など |
|
出力系 |
モニタ・ディスプレイ |
プリンタ など |
|
|
| お問合せ |
エレクトロテスト・ジャパン 事務局
リード エグジビション ジャパン株式会社 内
担当：滝澤 / 牧野 / 鈴木 / 前薗 / 市村 / 早田 / 屋代 / 杉本 / 金 / 大塚
〒163-0570 東京都新宿区西新宿1-26-2 新宿野村ビル18階
TEL：03-3349-8502 FAX：03-3349-4900
E-mail：et@reedexpo.co.jp |
|
