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会期:2013年1月16日[水]~18日[金] / 会場:東京ビッグサイト / 主催:リード エグジビション ジャパン株式会社
会期: 2013年1月16日[水]〜18日[金]
会場: 東京ビッグサイト
主催: リード エグジビション ジャパン 株式会社
開催展名: 第30回 エレクトロテスト ジャパン 〜エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展〜
併催企画: 専門技術セミナー
特設ゾーン:
併催展:
同時開催展:
来場対象者
本展には、下記エレクトロニクス関連メーカーから[生産技術][製造技術][研究・開発][品質管理・検査][設計][購買][生産管理]などの専門家が多数来場します。
出展対象製品
<外観検査装置>
<リワーク/リペア装置>
<テスタ>
<検査関連部品>
<測定・試験・分析機器>
<分析受託サービス>
<その他各種検査・試験・測定装置・部品>
産業用カメラ、ソフト、システムなど画像処理に特化した機器・技術が一堂に出展!
■ 入力系
■ 処理系
■ 出力系
展示会 事務局リード ジャパン(株)内〒163-0570東京都新宿区西新宿1-26-2新宿野村ビル18階TEL : 03-3349-8502FAX : 03-3349-4900E-mail : et@reedexpo.co.jp