出展対象製品/来場対象者

【出展対象製品】

◆ 外観検査装置

    実装基板外観検査装置、はんだ外観検査装置、赤外線検査装置、X線検査装置、ボール外観検査装置、TAB外観検査装置、バンプ外観検査装置、
 リードフレーム外観検査装置、半導体チップ外観検査装置、電子部品外観検査装置 など

◆ リワーク/リペア装置

    BGA/CSPリワークシステム、BGA/CSPリワーク装置、リワーク用各種治具、ツール など

◆ テスタ

    インサーキットテスタ、ファンクションテスタ、バウンダリスキャンテスタ、ICテストソケット、IC/LSIテスタ、ベアボードテスタ など

◆ 検査関連部品

    治具、プローブ、ステージ など

◆ 測定・試験・分析機器

    2・3次元測定機器、膜厚測定機器、恒温・恒湿試験装置、バーンイン試験装置、各種環境試験装置、材料試験装置、耐久試験装置/振動計、
 信頼性/評価試験装置、材料分析装置、各種分析ソフト、各種測定・試験・分析機器、センサ・計測関連部品 など

◆ 分析受託サービス

    分析受託・サービス など

◆ その他 各種検査・試験・測定装置・部品

◆ 特設 非破壊検査ゾーン

    X線検査装置、ガンマ線検査装置、超音波検査装置、放射線検査装置、磁気検査装置、磁粉検査装置、渦流検査装置、浸透検査装置、
 画像処理システム、カメラ・スコープ など

 

【来場対象者】

    本展には、下記エレクトロニクス関連メーカーから多数の専門家が来場します。
 [生産技術][実装][製造技術][設計][研究・開発][生産管理][品質保証][購買]

    電気・電子機器メーカー、EMS企業/サブコントラクター、半導体・アセンブリメーカー、モバイル機器(スマートフォンなど)メーカー、
 自動車・電装品メーカー、コンピュータ(および周辺機器メーカー)、医療機器メーカー、航空機器・船舶用機器メーカー、
 産業機器・FA機器メーカー、アミューズメント機器メーカー、映像機器メーカー、光学機器メーカー など

他の展示会の出展対象製品/来場対象者

その他ご質問などありましたら事務局までお問い合わせください

主催者 リード エグジビション ジャパン株式会社
エレクトロテスト ジャパン 事務局

TEL: 03-5302-3141  FAX: 0120-006-735
E-mail: visitor-inw@reedexpo.co.jp

TEL: 03-3349-8502  FAX: 03-3349-4900 
E-mail: et@reedexpo.co.jp

〒163-0570 東京都新宿区西新宿1-26-2 新宿野村ビル18階